Vitrox的V510 3D AOI 荣获2023 Global Technology Award!

通过结合人工智能(AI)技术和强大的检测能力,伟特的V510 3D AOI视检方案 (专为先进封装而设计)在半导体和SMT行业引领了重大变革,尤其是在处理高度镜面元件检测。其中一项显着的突破性技术是表面缺陷检测(SDI)算法,使得V510 3D AOI视检方案能够提供广泛的检测覆盖,包括裸晶检测(偏移,缺失,共面,碎裂,转向,表面缺陷,如刮痕及污染等等),金手指(电导触片)表面检测,异物检测,和距离测量。通过照明模组和电动Z轴的协同作用,智能测量功能还能够提取准确的测量结果,为用户提供与CMM相当的功能体验。

融合AI技术,V510 3D AOI在软件编程与缺陷分类方面带来了显著改进。除了实现自动化编程和验收过程,同时也降低了对技术人员需求以及人为检测错误的潜在风险。伟特V510 3D AOI 的A.I.编程引入了自动编程能力,大幅简化了编程过程,不仅提升高达4倍的编程速度,同时也降低了对技术操作工人的依赖。此外,我们还引入了一项创新的功能 - A.I.智能复判 (简称AI VVTS),使用户在检测结果复判中自动完成验收流程。这项开创性技术可实现超越90%的不良覆盖率和高精度的缺陷检测,提升用户对其检测结果绝对的信心。此外,V510i 3D AOI视检方案已成功获取IPC-CFX-2591(合格产品列表)QPL的认证,并具备SECS/GEM的功能。

V510 3D AOI的检测速度及分辨率也同步提升至60cm²/ sec和15ɥm。同时,V510 3D AOI採用2D + 3D检测,以达到高生产率和高可检测性。V510 3D AOI现还提供相称的双轨以检测更大的电路板。此外,系统能检测不同类型的缺陷如翘脚,共面性,黑色PCB/多彩PCB,存在/缺失,小型器件如01005/0201以及其他,颇具挑战性。



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