Agilent3070测试方法

1.Agilent3070测试方法
一般来说,在线测试方法分为两大类:
(1)非加电测试(unpowered test),也称非矢量测试(vectorless test)
(2)加电测试(powered test),也称矢量测试(vector test)

非加电测试一般用来测试开路(OPEN),短路(SHORT),模拟元器件(ANALOG COMPONET), 连接性(CONTINUITY),极性测试(POLARITY),方向测试(ORIENTATION)等等;

加电测试一般用来测试模拟集成电路(ANALOG IC),数字集成电路(DIGITAL IC),混合集成电路(MIXED/HYBRID IC),边界扫描(BOUNDARY SCAN),在线烧录ISP(IN SYSTEM PROGRAMMING)

2.Agilent3070非加电测试方法:
(1)SHORTS TEST -- 测试PCBA的开短路。
(2)PINS TEST -- 测试PCBA和FIXTURE(夹具)之间连接性[不用来对PCBA进行测试
(3)ANALOG TEST -- 模拟测试(主要用来测试电阻,电容等模拟元件)
(4)TESTJET TEST -- 测试器件的连接性及方向
(5)POLARITY TSET -- 测试器件的极性
(6)CONNECT CHECK -- 测试器件的连接性及方向,也TESTJET形成互补测试方法
(7)DRIVE THROUGH -- 与TESTJET测试结合,解决LIMITED ACCESS PROBLEMS
(8)UNPOWED CLUSTER -- 非矢量群测试库,解决LIMITED ACCESS PROBLEMS

  1. Agilent3070加电测试方法:

(1)BOUNDARY SCAN TEST -- 边界扫描测试
(2)DIGITAL TEST -- 数字测试
(3)DIGITAL FUNCTIONAL -- 数字功能测试。
(4)ANALOG FUNCTIONAL -- 模拟功能测试(模拟加电测试)
(5)MIXED TEST -- 混合测试
(6)POWERED CLUSTER -- 矢量群测试库,解决LIMITED ACCESS PROBLEMS



    Leave a Reply

    Your email address will not be published. Required fields are marked *